Tem試片厚度最首要的先決條件是什麼

TEM（透射電子顯微鏡）試片的製備是為了在電子顯微鏡下觀察樣品的微觀結構。對於TEM試片來說，最首要的先決條件是樣品必須足夠薄，以至於電子能夠穿透。通常，TEM試片的厚度需要控制在幾十納米到幾百納米之間，具體的厚度取決於樣品的性質和觀察的目的。

如果試片太厚，電子將無法穿透，或者穿透後信號太弱，無法在顯微鏡中形成清晰的圖像。因此，TEM試片的製備通常涉及到樣品的拋光、切削、磨損或化學侵蝕等過程，以將其減薄至適當的厚度。在某些情況下，還可能需要使用特殊的技術，如蝕刻或濺射沉積，來製備極薄的樣品或製備支持膜以固定樣品。