最正分析

"最正分析"（Zernike Polynomials）是一種用於描述光學系統像差的方法，特別是在光學顯微鏡中。這些分析方法基於一組正交多項式，由Frits Zernike在20世紀30年代開發，用於描述光學系統中的各種像差，如球差、彗差、像散等。

最正分析的原理是將光學系統的像差分解為一系列Zernike多項式的線性組合，每一項對應一種特定的像差類型。通過測量這些Zernike項的係數，可以準確地表徵光學系統的像差，並對其校正。

在光學顯微鏡中，最正分析常用於校正物鏡的像差，以提高圖像的質量。通過調整顯微鏡中的可調元件，如波帶片或液體細胞，可以改變Zernike項的係數，從而校正像差。

最正分析不僅在光學顯微鏡中有套用，還在其他光學系統中用於像差的表徵和校正，如望遠鏡、雷射系統等。它是一種強大的工具，用於確保光學系統能夠提供最佳的成像性能。